Pocket-Surfix X

Cep formatında hassas kaplama kalınlığı ölçme cihazı

Pocket-Surfix® X-Serisi kaplama kalınlığı ölçerler, demir/çelik veya demir dışı metaller üzerindeki vernik, boya ve elektroliz kaplamaların hızlı, güvenilir ve hassas kaplama kalınlığı ölçümünü sağlayan taşınabilir ölçerlerdir.

Kaplama kalınlığı ölçüm cihazları, entegre probu sayesinde özellikle kullanışlıdır. Ölçüm probu, karbür metalden yapılmış aşınmaya karşı son derece dayanıklı bir ölçüm ucuna sahiptir ve böylece çok uzun bir kullanım ömrünü garanti eder. Geniş ayak izine ve V oluğuna sahip plastik ayak, düz, silindirik ve kavisli yüzeylerde dikey konumlandırma sağlar.

Parlak LED arka ışık, zor koşullar altında bile ölçüm değerlerinin kolayca okunmasını sağlar. Tüm Pocket-Surfix® X-Serisi cihazlar bir veri belleğine sahiptir ve USB 2.0 bağlantısı üzerinden bir PC’ye bağlanabilir.

Üç versiyon mevcuttur:

  • Pocket-Surfix® X-FN: demir/çelik ve demir dışı metaller üzerinde ölçümler için
  • Pocket-Surfix® X-F: demir/çelik üzerindeki ölçümler için
  • Pocket-Surfix® X-N: demir içermeyen metaller üzerinde ölçümler için
Uygulama Alanları
  • Elektrokaplama endüstrisi
  • Boya endüstrisi
  • Otomotiv endüstrisi
  • Kimya endüstrisi
  • Havacılık ve uzay endüstrisi
  • Gemi inşa endüstrisi
Avantajlar
  • Yenilikçi ve kullanıcı dostu ölçüm Teknolojisi: Açın ve ölçün!
  • Tüm yaygın parametrelerin çevrimiçi istatistikleri
  • Veri belleği
  • Serbestçe seçilebilen bir dilde sezgisel menü yönlendirmesi
  • Karanlık ortamlarda kolay okuma için LED arka ışıklı ekran
  • USB 2.0 bağlantısı üzerinden PC’ye veri aktarımı
  • Pocket-Surfix® X-FN: temel malzemenin otomatik tespiti (demirli / demirsiz)
  • Düşük prob ucu basıncı hassas yüzeylerde çizik ve girintileri önler
  • Veri aktarım yazılımı PHYNIX.connect dahil
  • Üretici kontrol sertifikası ve iki yıl garanti ile birlikte gelir
Ürün Kodu Açıklama
10808 Phynix Pocket-Surfix® X-FN
Dahili Problu Film kalınlığı Ölçer
Çelik/demir ve NFe metaller üzerinde kaplama kalınlığı ölçümü için
Aralık: 0-1.500 µm
Çözünürlük: 0,1 µm ya da okunan değerin %0,2’si
Hassasiyet: ± 1 µm + okunan değerin %1’si
Kalibrasyon: Fabrika Kalibrasyonu + Sıfırlama Kalibrasyonu + Folyo kalibrasyonu + ofset fonksiyonu (sabit bir değere ekleme ya da çıkarma)
10809 Phynix Pocket-Surfix® X-F
Dahili Problu Film kalınlığı Ölçer
Çelik/demir gibi manyetik metaller üzerinde kaplama kalınlığı ölçümü için
Aralık: 0-1.500 µm
Çözünürlük: 0,1 µm ya da okunan değerin %0,2’si
Hassasiyet: ± 1 µm + okunan değerin %1’si
Kalibrasyon: Fabrika Kalibrasyonu + Sıfırlama Kalibrasyonu + Folyo kalibrasyonu + ofset fonksiyonu (sabit bir değere ekleme ya da çıkarma)
10810 Phynix Pocket-Surfix® X-N
Dahili Problu Film kalınlığı Ölçer
NFe metaller üzerinde kaplama kalınlığı ölçümü için
Aralık: 0-1.500 µm
Çözünürlük: 0,1 µm ya da okunan değerin %0,2’si
Hassasiyet: ± 1 µm + okunan değerin %1’si
Kalibrasyon: Fabrika Kalibrasyonu + Sıfırlama Kalibrasyonu + Folyo kalibrasyonu + ofset fonksiyonu (sabit bir değere ekleme ya da çıkarma)